本發(fā)明屬于化學物質檢測技術領域,可用于對物質的化學成分進行高靈敏度探測鑒別。本發(fā)明使用多個探測器同時探測不同波長下的熒光壽命及光譜信息,能對微弱的自發(fā)熒光光譜及熒光壽命進行高靈敏度的探測,具有探測精度高,探測速度快的特點。同時,本發(fā)明利用針孔對收集到的熒光信號進行濾波,提高系統(tǒng)的分辨率;利用掃描系統(tǒng)實現(xiàn)被測物質二維或三維熒光壽命及熒光強度譜分布的測量。因此,本發(fā)明的提出為待測物質熒光壽命及熒光光譜的高靈敏度便捷測量提供了可行途徑,將在生物學、醫(yī)學、材料科學等研究領域及臨床醫(yī)學診斷方面具有重要應用。
聲明:
“多探測器分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)