本發(fā)明屬于環(huán)境中樣品檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開一種CdTe?QD@ZIF?8納米
復(fù)合材料在檢測鉻離子中的應(yīng)用。將CdTe?QDs@ZIF?8納米復(fù)合材料分散于HEPEs緩沖溶液中,加入不同濃度的Cr6+和Cr3+離子的標準樣品,化學(xué)穩(wěn)定后,利用熒光光譜儀檢測熒光強度,繪制F/F0隨鉻離子濃度變化的標準曲線;將CdTe?QDs@ZIF?8納米復(fù)合材料分散于HEPEs緩沖溶液中,加入不同含有鉻離子的待測樣品,化學(xué)穩(wěn)定后,利用熒光光譜儀檢測熒光強度,通過標準曲線確定待測樣品中Cr6+的含量,同時根據(jù)熒光強度區(qū)分Cr6+和Cr3+。本發(fā)明直接相比于其他檢測鉻離子的方法,操作簡單,成本低,離子抗干擾能力強,能夠區(qū)分Cr3+和Cr6+,在鉻離子檢測中具有較大優(yōu)勢。
聲明:
“CdTe QD@ZIF-8納米復(fù)合材料在檢測鉻離子中的應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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