本實(shí)用新型涉及測量設(shè)備領(lǐng)域,提供一種X熒光光譜分析儀,其包括X射線發(fā)生裝置、真空測量室、安裝于上述真空測量室內(nèi)的多個(gè)固定元素道和與各上述固定元素道分別對(duì)應(yīng)設(shè)置的探測器,通過對(duì)上述探測器施加電壓來進(jìn)行化學(xué)元素的測試,該X熒光光譜分析儀還包括顯示和調(diào)節(jié)施加在上述探測器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板(100)。本實(shí)用新型的有益效果在于:使得X熒光光譜分析儀的調(diào)試和維修更加容易,且能夠提高探測器上的電壓的調(diào)節(jié)精度,使操作人員無需反復(fù)進(jìn)行多次的檢測和調(diào)節(jié)。
聲明:
“X熒光光譜分析儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)