本發(fā)明涉及一種用于檢測并分析材料2中的至少一種材料偏差的未受影響的材料分析的方法。該方法的特征在于,通過使用被布置成與材料接觸的觸覺傳感器4對材料2中硬度不同的區(qū)域1進行檢測,用色譜光A對所檢測的區(qū)域進行照射以獲得光譜形式的反射光B,以及對所獲得的光譜進行分析以獲得關于材料的物理及化學的分子結構的信息。本發(fā)明還涉及一種裝置。
聲明:
“用于未受影響的材料分析的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)