本發(fā)明提供一種利用X射線熒光光譜測定鉻礦中化學組成的方法。該方法將熔融法與壓片法相結(jié)合,在坩堝中只加入鉻礦試樣與熔劑,加熱熔融,然后冷卻粉粹,再壓片制備得到鉻礦樣品,然后利用X射線熒光光譜測定樣品中化學組成。與現(xiàn)有技術相比,該方法成本低、簡單易行,具有高檢測準確度,并且能夠?qū)Φ秃吭赜休^好的檢出限。
聲明:
“利用X射線熒光光譜測定鉻礦中化學組成的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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