公開(kāi)了用于測(cè)量流體樣品中的分析物的系統(tǒng)和方法。該系統(tǒng)和方法采用測(cè)試條,該測(cè)試條通常包括基材、至少一個(gè)電連接件、至少一種感測(cè)化學(xué)物和至少一個(gè)附加層。測(cè)試條可以批量校準(zhǔn)。
聲明:
“使用批量可校準(zhǔn)測(cè)試條測(cè)量分析物的方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)