一種二氧化鈦納米管陣列精密制備和原位測(cè)試分析系統(tǒng):制備參數(shù)檢測(cè)單元,位于制備參數(shù)檢測(cè)單元頂部的降溫照明裝置,位于制備參數(shù)檢測(cè)單元一側(cè)用于向制備參數(shù)檢測(cè)單元進(jìn)行電極光電催化活性試驗(yàn)提供照明的高功率氙燈光源,與制備參數(shù)檢測(cè)單元相連用于采集檢測(cè)參數(shù)并根據(jù)檢測(cè)參數(shù)對(duì)制備參數(shù)檢測(cè)單元進(jìn)行控制的制備參數(shù)測(cè)控單元,與制備參數(shù)檢測(cè)單元相連用于采集
電化學(xué)參數(shù)的電化學(xué)性能測(cè)試單元,以及分別與制備參數(shù)測(cè)控單元和電化學(xué)性能測(cè)試單元相連的上位機(jī)。本發(fā)明提供一種批量制備二氧化鈦納米管陣列的自動(dòng)化制備裝置,該裝置能成批量制備二氧化鈦納米管陣列,結(jié)構(gòu)精巧嚴(yán)謹(jǐn),自動(dòng)化操作,能保證自組裝二氧化鈦納米管的穩(wěn)定生長(zhǎng)。
聲明:
“二氧化鈦納米管陣列精密制備和原位測(cè)試分析系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)