本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域,公開了一種
鋰電池保護(hù)電路的測試方法和系統(tǒng)。本發(fā)明中,通過確保探針與熔絲的接觸良好,保證VBG測試電壓和VDET測試電壓準(zhǔn)確,避免因電壓測量不準(zhǔn)導(dǎo)致的熔絲燒斷錯(cuò)誤,使得在CP測試時(shí)根據(jù)VBG和VDET測試電壓,進(jìn)行熔絲修復(fù),剔除無法修復(fù)的壞品,節(jié)省封裝和測試成本,從而提高FT的良率。
聲明:
“鋰電池保護(hù)電路的測試方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)