本發(fā)明涉及一種基于點(diǎn)云轉(zhuǎn)圖像的復(fù)材鋪絲表面缺陷檢測(cè)與識(shí)別方法,包括:獲取
復(fù)合材料鋪絲產(chǎn)品的表面點(diǎn)云數(shù)據(jù);對(duì)表面點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行平面擬合,得到擬合平面;計(jì)算表面點(diǎn)云數(shù)據(jù)中所有點(diǎn)到擬合平面的距離;將表面點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行OBB外包圍盒包絡(luò),并與步驟S3計(jì)算的距離數(shù)據(jù)結(jié)合,生成灰度圖;構(gòu)建預(yù)訓(xùn)練的鋪絲缺陷類型語(yǔ)義分割網(wǎng)絡(luò),將生成的灰度圖作為輸入,對(duì)灰度圖進(jìn)行缺陷區(qū)域分割與識(shí)別;將鋪絲缺陷類型語(yǔ)義分割網(wǎng)絡(luò)輸出的分割結(jié)果映射至點(diǎn)云,并進(jìn)行缺陷評(píng)估與可視化。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)復(fù)材鋪絲表面缺陷的高精度測(cè)量與缺陷類型識(shí)別,解決現(xiàn)有技術(shù)中復(fù)材鋪絲表面缺陷檢測(cè)與識(shí)別時(shí)檢測(cè)效率和精度低、適用性差等問(wèn)題。
聲明:
“基于點(diǎn)云轉(zhuǎn)圖像的復(fù)材鋪絲表面缺陷檢測(cè)與識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)