本發(fā)明公開了一種低介電常數(shù)聚酰亞胺薄膜的制備方法,所述的低介電常數(shù)聚酰亞胺薄膜的制備方法為:在聚酰亞胺基體中加入表面接氟的介孔二氧化硅形成
復(fù)合材料,一方面加入中空填料引入空氣可以降低薄膜的介電常數(shù),除此之外,表面的氟元素具有強(qiáng)的吸電子效應(yīng),也會(huì)降低聚酰亞胺薄膜的離散電子能級(jí),可以進(jìn)一步降低聚酰亞胺復(fù)合薄膜的介電常數(shù)。使得復(fù)合薄膜的介電常數(shù)最低可降至2.6左右,并且薄膜的熱性能并沒有出現(xiàn)顯著的降低,本發(fā)明方法簡單可行且經(jīng)濟(jì)成本低,在電子和微電子行業(yè)具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“低介電常數(shù)聚酰亞胺薄膜的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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