本發(fā)明所述的含輕元素低品位礦物的定量分析方法，包括以下S：S1.測(cè)試樣品制備：將待測(cè)樣品破碎制成光片并研磨拋光得到測(cè)試樣品；S2.目的礦物確定：采用自動(dòng)工藝礦物學(xué)分析系統(tǒng)對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行礦物自動(dòng)定量分析，確定目的礦物并標(biāo)記其單體顆粒的位置；S3.目的礦物提?。喝〕鰳?biāo)記位置的目的礦物單體顆粒；S4.目的礦物分析：進(jìn)行X射線粉晶衍射測(cè)定并查找匹配物相。本發(fā)明突破自動(dòng)工藝礦物學(xué)分析系統(tǒng)以及X射線粉晶衍射聯(lián)合應(yīng)用的技術(shù)屏障，將測(cè)試樣品中的破碎礦物標(biāo)記并取出，利用掃描電鏡的定位、以及X射線粉晶衍射的全面數(shù)據(jù)匹配能力，可準(zhǔn)確鑒定出目前難以檢測(cè)的含輕元素低品位礦物并進(jìn)行定量檢測(cè)分析，克服了近30年來的礦物檢測(cè)短板。